تست مدار مجتمع به عملکرد اکثر دستگاه های الکترونیکی حیاتی است. در حال ، به عنوان مدارهای مجتمع نیز شناخته شده است ، می تواند در رایانه ها ، تلفن های همراه ، اتومبیل ، و تقریبا هر چیزی که حاوی قطعات الکترونیکی در بر داشت. بدون آزمایش هر دو قبل از نصب نهایی و یک بار بر روی یک هیئت مدیره نصب شده ، بسیاری از دستگاه های غیر کارکردی و یا توقف عملکرد زودتر از دهانه زندگی مورد انتظار خود را می رسند. دو دسته اصلی از تست مدار مجتمع ، تست ویفر و تست سطح هیئت مدیره وجود دارد. علاوه بر این ، آزمایشات ممکن است مبتنی بر ساختاری یا تابعی باشد.
تست ویفر ، یا ویفر کاوش ، در سطح تولید ، قبل از نصب تراشه در مقصد نهایی خود انجام می شود. این تست با استفاده از تجهیزات تست خودکار (ATE) در ویفر سیلیکونی کامل که از آن مربع از تراشه ها قطع خواهد شد ، انجام می شود. قبل از بسته بندی ، آزمایش نهایی در سطح هیئت مدیره انجام می شود ، استفاده از همان یا مشابه آن به عنوان آزمایش ویفر.
